Perangkat elektronik cukup rentan terhadap gangguan EMI (Electromagnetic Interference) baik yang dihasilkan oleh perangkat elektronik itu sendiri atau pun perangkat elektronik lainnya dan beberapa faktor eksternal lainnya. Terdapat 2 jenis EMI berdasarkan cara perambatannya yaitu Radiated Emission dan Conducted Emission. Dalam EMI, pengujian terhadap perangkat elektronik merupakan hal yang penting dilakukan agar perangkat tersebut dapat diproduksi dan didistribusikan berdasarkan standar regulasi yang telah ditetapkan. Pada penelitian ini menggunakan (Transverse Electromagnetic) TEM Cells karena biaya yang lebih murah dengan biaya fabrikasi ± 5 juta Rupiah dan lebih menghemat waktu. Pada penelitian ini TEM Cells dirancang menggunakan bahan berupa pelat tembaga dengan ketebalan 2 mm. Parameter kinerja yang didapatkan dengan frekuensi uji 30 MHz – 1 GHz dari TEM Cell hasil perancangan simulasi CST Studio adalah pada frekuensi 700 MHz dengan return loss -28,29dB dan pada frekuensi 700 MHz dan 750 MHz VSWR nya adalah 1,1. Pada TEM Cell hasil fabrikasi dengan pengujian rentang frekuensi 30 MHz – 1 GHz didapatkan return loss -21,62 dB pada frekuensi 950 MHz dan VSWR 1,4 pada frekuensi 650 MHz dengan . TEM Cells hasil fabrikasi dapat mengukur radiated emission yang dihasilkan oleh rangkaian pengujian TEM Cells EMI Source (SMPS) dan Smartphone. TEM Cells hasil fabrikasi terbukti lebih sensitif dalam menangkap emisi radiasi yang terpancar oleh perangkat. Pada frekuensi 1782 MHz nilai senstifitas TEM Cell fabrikasi lebih sensitif 1,8x dari TEM Cell TEKBOX TBTC 1 (Kampus).